IEEE/ANSI N 42.31-2003 电离辐射的宽能隙半导体探测器的分辨率和能效用测量规程用美国国家标准
作者:标准资料网 时间:2024-05-02 10:04:29 浏览:8393
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【英文标准名称】:AmericanNationalStandardforMeasurementProceduresforResolutionandEfficiencyofWide-BandgapSemiconductorDetectorsofIonizingRadiation
【原文标准名称】:电离辐射的宽能隙半导体探测器的分辨率和能效用测量规程用美国国家标准
【标准号】:IEEE/ANSIN42.31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;效率;致电离辐射;测量;测量技术;辐射测量;半导体探测器;半导体器件;试验
【英文主题词】:Definitions;Efficiency;Ionizingradiation;Measurement;Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:17_240;31_080_01
【页数】:40P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:电离辐射的宽能隙半导体探测器的分辨率和能效用测量规程用美国国家标准
【标准号】:IEEE/ANSIN42.31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;效率;致电离辐射;测量;测量技术;辐射测量;半导体探测器;半导体器件;试验
【英文主题词】:Definitions;Efficiency;Ionizingradiation;Measurement;Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:17_240;31_080_01
【页数】:40P;A4
【正文语种】:英语
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